Fraunhofer IKTS Klotzsche

Die Wissenschaftler und Techniker entwickeln innovative Methoden und Prüfsysteme, mit denen die Eigenschaften von Werkstoffen charakterisiert, die Produktqualität kontrolliert oder Fertigungsprozesse und Anlagenkomponenten überwacht werden können.

Hochauflösende Elektronen- und Ionenmikroskopie: Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), Rasterelektronenmikroskopie (SEM), fokussierende Ionenstrahltechnik (FIB)

Hochauflösende Röntgentechniken: Nano-Röntgenmikroskopie (TXM), Nano-Röntgentomographie (XCT)

Hochaufgelöste mechanische Eigenschaften: Nanoindentation, (akustische) Rasterkraftmikroskopie (AFAM / AFM)